طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس
طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF، یک تکنیک آنالیز عنصری ست که کاربردگسترده ای در تحقیقات و صنعت دارد. امکان آنالیز کمی و کیفی عنصری (از سدیم تا اورانیوم) با ان روش وجود دارد. به علت سهولت نسبی آماده‌سازی نمونه، هزینه آنالیزی مناسب، پایداری و اپراتوری آسان، انجام آنالیز کمی و کیفی، این روش یکی از روش‌های اصلی برای آنالیز عناصر اصلی (major) و جرئی (trace) نمونه‌های معدنی است.
طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس Philips PW1606در آزمایشگاه کنترل کیفیت کارخانه سیمان
این پدیده به‌طور گسترده برای تجزیه و تحلیل عناصر و آنالیز شیمیایی به ویژه در بررسی فلزات، شیشه، سرامیک و مصالح ساختمانی و همچنین تحقیق در زمینه ژئوشیمی، علوم پزشکی قانونی، باستان‌شناسی و اشیاء هنری[1] مانند نقاشی[2] و نقاشی دیواری استفاده می‌شود. .
جستارهای وابسته
منابع
- De Viguerie L, Sole VA, Walter P, Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings, Anal Bioanal Chem. 2009 Dec; 395(7): 2015-20. doi:10.1007/s00216-009-2997-0
- X-Ray Fluorescence at ColourLex
پیوند به بیرون
- Spectroscopy در کرلی
| ابزار اندازه‌گیری | |
|---|---|
| روش‌ها | |
| نمونه‌برداری |
|
| کالیبراسیون |
|
| نشریات علمی و مجله‌ها | |
| |
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.